想之所想 金邦DBT打造贴心放心内存

　　近一年来，“DBT”这三个英文字母频繁的出现在金邦台式机黑龙游戏内存和笔记本内存的宣传文章中。DBT是英文“Die-Hard Burn-in Technology”的缩写形式，这是GeIL金邦科技自主研发的一种内存高温老化测试技术。那么金邦科技为什么要不惜重金将这一技术引入到其内存的生产中呢？而这一技术对我们消费者而言又有什么价值呢？

金邦DBT LOGO

　　民用价格享受工业级品质

　　在DRAM内存界中，类似的高温老化测试因人力、硬件及时间成本过高的原因，只能被局限在门坎最高的工业或军用规格级别的内存上，而这样的高稳定性和高可靠性内存产品的价格自然不菲。因此，我们普通家用消费者是消费不起的。

金邦DBT高温老化过程

　　然而GeIL金邦却完全突破此窘境，在行业内独家引入DBT 动态高温老化测试工艺。DBT的相关技术和软硬件完全是由GeIL自主研发，所以能发挥最大效益亦能最大化的运用在GeIL广泛的产品线量产制程中。这一技术的引入使民用级内存拥有了工业级的检测技术，稳定性和可靠性都得到了显著的提高，这让我们普通的电脑用户不用花费很多就可以体验到工业级的内存产品的高稳定性和高可靠性。

　　无需烤机测试、使用更放心

　　一般对于新组装的电脑来说，为了检验其兼容性和稳定性都必不可少的要进行24小时左右的连续烤机。但是这样不但费电，而且电脑风扇的噪音也会影响家人的休息。更重要的是，24小时左右的连续烤机只能让一些非常显著的问题暴露出来，而一些潜在的隐患却不那么容易显现出来。例如：一条内存是由多颗内存颗粒组成的，而其中任何一颗IC颗粒出现了品质上的问题，都将影响内存的稳定性。尤其是一些假冒或杂牌内存厂商生产的内存产品，在采购时就选择了品质低劣的颗粒，而在生产内存时也保证不了对每颗IC颗粒进行有效的品质测试，导致同条内存IC颗粒的品质参差不齐，为后来的蓝屏死机埋下了“隐患”。

内存条可靠度BATHTUB曲线图 

　　由上面的“内存条可靠度BATHTUB曲线图”我们可以了解到，内存的主要故障都出现在模块寿命周期开始和最后的1/10阶段。内存在寿命周期开始阶段出现的问题称为早衰期内故障。而金邦DBT动态高温老化技术就是通过由工作环境和电气性能两方面对内存模块进行苛刻的测试（最高温可达摄氏100度/最长可达24小时的高温测试），迫使早衰期内故障不是在客户使用后的几个月才出现，而是缩短至内存出厂前的几小时出现。

　　据数据显示，经过高温老化测试的黑龙内存的平均产品不良率可降低至0.01%以下。也就是说10000条模块仅有1条会有不良，甚至没有不良的情形。因此，在内存生产中引入DBT动态高温老化测试技术，使用户无需进行烤机测试，依然可以放心使用经过DBT测试的金邦内存产品。