金邦DBT烧机老化测试揭秘（中）

防“患”于未然

　　如何才可以防“患”于未然，避免以上问题的出现呢？最有效的方式，就是在内存出厂前就进行严格的烧机老化测试。何谓烧机老化？其实这一概念在电子相关零件及产品的可靠度工程中并不陌生。一般来说，此测试就是在产品出厂前针对性的提高环境工作温度和电压等进行仿真运行测试，其意义在于筛选并摒除体质较弱易衰老的产品或零件，进而提升产品整体质量和稳定性。

　　但遗憾的是，在DRAM内存界中，类似的烧机老化测试因人力、硬件及时间成本过高（平均每台DBT烧机老化测试机价值4000万美金）的原因，类似的制程只能被局限在门坎最高的工业或军用规格级别的内存上。而对于个人PC市场，仅传统的利用主板在常温下运行测试程序(例如:R.S.T. 或者MEMORY TEST) 进行简单测试。

　　这种测试方式，只能测试当时模块的状态，对于ic制程中所产生的瑕疵品无法验证。而内存模组的特性是在使用1-3个月后才会逐渐显现出问题，这也就是部分消费者在使用1-3个月后会发现产品效能逐渐衰退甚至无法使用的原因。

金邦DBT突破烧机老化测试的窘境！

　　金邦为了给电脑用户带来品质优秀、性能稳定的内存产品，已投入巨额资金将烧机老化技术正式引入自己的内存制造过程中。金邦的烧机老化技术的相关技术和软硬件完全是由其自主研发，称之为DBT技术，也就是Die-Hard Burn-in Technology。由于是自主研发所以能发挥最大效益亦能最大化的运用在GeIL广泛的产品线量产制程中。

　　由上面的“内存条可靠度BATHTUB曲线图”我们可以了解到，内存的主要故障都出现在模块寿命周期开始和最后的1/10阶段。内存在寿命周期开始阶段出现的问题称为早衰期内故障。而DBT烧机老化技术就是通过由工作环境和电气性能两方面对内存模块进行苛刻的测试，迫使早衰期内故障不是在客户使用后的几个月才出现，而是缩短至内存出厂前的几小时出现。

最高温可达摄氏100度/最长可达24小时的高温测试